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DIATEST塞规式测量系统是直接测量吗
  • 发布日期:2019-09-25      浏览次数:49
    • DIATEST塞规式测量系统是直接测量吗
        DIATEST塞规具有高精密静态孔径测量和动态孔径测量功能。既可用于手动检测尺寸偏差和形状缺陷错误的孔径检测仪器,也可以安装在测量设备和自动化系统上。测量范围从?2.98到270mm,测量深度:0.6-2000mm,重复精度:≤1μm,线性误差:≤1%,使用寿命:满足100万次以上测量要求。
       
        塞规式测量系统(BMD)是一种具有自动显示、自动定中心功能的高精度测量仪器。此塞规式测量系统使用方便,适合静态和动态测量。通过手动测量可以检测出孔的尺寸偏差和形状误差,也可以安装在测量设备上进行自动检测。
       
        DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计,保证了测量结果的可靠性,解决了孔径测量的对中难题,大限度地减少了人为因素对测量结果的影响,可方便、快速、准确得出测量结果。测头为非标定制,按图纸及使用要求加工制作!
       
        此测量系统具有应用范围广、操作简单、精度高、结构牢固等优点。标准产品中有很多可选择的基本型号,并提供了满足特定测量范围的附件,以确保可以测量实际应用中所遇到的多数孔径。量仪的显示部分可以是机械表、数显表或连接到分析设备的传感器。使用校对环规进行零点校准。
       
        DIATEST特殊形式BMD塞规式测头
       
        BMD-S10-CR-28.0-S-FB-L1=3.0
       
        BMD-S10-CR-30.0-OR-FASE0.5x45°
       
        BMD-S10-CR-30.0-UM
       
        BMD-S10-CR-10.0-2R
       
        BMD-S10-CR-35.0-3P
       
        BMD-D10-CR-28.0-SO-TA-L3=1
       
        DIATEST塞规式测量系统是直接测量吗?答:比较法测量,需要配校对环规。使用校对环规进行零点校准,校对环规的尺寸与孔的小尺寸相关,如此可以确保在校准过程中极大的减小的轴向和径向的误差。遵循DIN2250-C标准的环规是适合的校对环规,较大尺寸的环规或小尺寸、中间尺寸和大尺寸的校对环规通常是不需要的。
       
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